Измеритель esr на микроконтроллере своими руками - Измеритель емкости и ESR - t

Наш тестер LCR-T4 уже стал функциональным прибором которым удобно пользоваться, но этим мы не ограничимся и добавим новые функции, сделаем прибор еще удобнее, например, добавив русский язык, контрастный и толстый шрифт, и еще много чего, но обо всем по порядку. Обновлено: Это продолжение статей. И вот такой шлейф и переходник, все шло в комплекте.

Простые схемы измерителей ESR оксидных конденсаторов

Давно не секрет, что половина отказов в современной бытовой технике связана с электролитическими конденсаторами. Вздувшиеся конденсаторы видно сразу, но есть и такие, которые выглядят вполне нормально. Все неисправные конденсаторы имеют потерю ёмкости и увеличенное значение ESR, или только увеличенное значение ESR ёмкость нормальная или выше нормы. Вычислить их - не так просто, приходится выпаивать их, если параллельно подключено несколько конденсаторов, или параллельно к измеряемому конденсатору подключены какие либо шунтирующие элементы, проверять и исправные запаивать обратно.

Какой главный параметр для оценки исправности конденсаторов? Конечно их ёмкость. Но по мере распространения импульсной высоковольтной техники, стало очевидно, что надо обратить внимание на ещё один параметр, от которого зависит надёжность и качество работы импульсных преобразователей — это эквивалентное последовательное сопротивление ЭПС, по англ. ESR — equivalent series resistance. Применение конденсаторов с увеличенным значением ЭПС приводит к росту пульсаций выходного напряжения по сравнению с расчётными значениями, и бстрому выходу их из строя из-за повышенного нагрева за счёт выделения тепла на ЭПС, нередки даже случаи закипания электролита, деформация корпуса, а также взрывы конденсаторов. Особая выраженность негативного влияния ЭПС именно в силовых импульсных преобразователях вызвана, работой на больших токах заряда-разряда, а также тем, что с ростом рабочей частоты ЭПС возрастает.

Гарантия 12 месяцев. Прибор изготовлен в виде открытой платы, с жидкокристаллическим дисплеем, тестовой ZIF-панелью и площадкой для SMD компонентов. Отсутствие корпуса продиктовано возможным подключением дополнительных плат. Прошивка тестера LCR-T4 может быть изменена.